Scanner XRF

Presso il LABEC è stato sviluppato un sistema XRF a scansione, con il quale si ottengono mappe della distribuzione superficiale degli elementi all’interno di una data area del manufatto in esame. Per ottenere questo tipo di risultati, la testa di misura è stata accoppiata a tre stadi di traslazione con risoluzione micrometrica. Spostando il fascio, registrando punto per punto lo spettro di fluorescenza X indotta nel campione e analizzando detto spettro, lo strumento fornisce mappe composizionali elementali dell’area in esame. Dal punto di vista applicativo, queste ultime permettono di  affrontare una varietà di  problematiche composizionali che si incontrano nello studio e conservazione di beni culturali superando, in molti casi, le note difficoltà legate alla disomogeneità dei materiali costitutivi dei manufatti di interesse.

Lo strumento è così composto:

1.  testa di misura:

• rivelatore SDD (139 eV energy resolution, 17 mm² collimated active area and 500 mm thick)
• tubo Moxtek (anodo in Cr o Mo), 100 mA, 40 kV.
• telecamera ethernet Axis, per la visione del camipione durante la misura.
• telemetro CMOS laser sensor (Keyence IA-100), amplifier unit (Keyence IA- 1000) e un’Arduino ADC board,USB connessa al control PC;
• regolatore flusso elio per misure ottimizzate su elementi leggeri

2. sistema di scansione: 3 motori micrometrici PI M404-8PD o VT80 DC motors, di range 200 x 200 (sul piano x-y per la scansione) e 50 mm per la regolazione della distanza tra scanner e campione

3. sistema radioprotezione, basato su Sick/Wl4 photoelectric sensors and reflectors, che definiscono la no-access area (2 x 2 m²) dove lavora lo strumento e che deve essere mantenuta libera da presenza umana per la normative sulla radioprotezione

4. una carbon fiber box, che sostiene lo scanner e ospita al suo interno:

• alimentazione degli strumenti e i controllori dei motori e gli hub usb
• compact desktop CAEN DT5780 digitizer (100 MS/s, 14-bit)